Joan edukira

Особенности анализа наночастиц и наноматериалов методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии учебное пособие

В пособии представлены важнейшие разделы и особенности современного метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в анализе наночастиц и наноматериалов. Изложены теоретические основы метода, метрологические характеристики, многообразные применения метода, включающие анализ функциональных матери...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Ищенко А. А.
Beste egile batzuk: Лазов М. А., Миронова Е. В., Путин А. Ю.
Formatua: Книга
Hizkuntza:Russian
Argitaratua: Москва РТУ МИРЭА 2024
Sarrera elektronikoa:https://e.lanbook.com/book/421019
https://e.lanbook.com/img/cover/book/421019.jpg
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!