Пропуск в контексте

Испытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика

В монографии рассматриваются вопросы теории, математического моделирования, практических приемов испытаний микропроцессорных токовых защит и их моделей с помощью испытательных установок и компьютерных программных комплексов. Монография рассчитана на научных сотрудников и инженерно-технический персон...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Новаш И. В.
Другие авторы: Романюк Ф. А., Румянцев В. Ю., Румянцев Ю. В.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Минск БНТУ 2021
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/421832
https://e.lanbook.com/img/cover/book/421832.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 01922nam0a2200301 i 4500
001 421832
003 RuSpLAN
005 20240717113657.0
008 240717s2021 ru gs 000 0 rus
020 |a 978-985-583-726-9 
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
080 |a 621.316.925 
245 0 0 |a Испытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика  |c Новаш И. В.,Романюк Ф. А.,Румянцев В. Ю.,Румянцев Ю. В. 
260 |a Минск  |b БНТУ  |c 2021 
300 |a 168 с. 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a В монографии рассматриваются вопросы теории, математического моделирования, практических приемов испытаний микропроцессорных токовых защит и их моделей с помощью испытательных установок и компьютерных программных комплексов. Монография рассчитана на научных сотрудников и инженерно-технический персонал энергосистем, будет полезна преподавателям, аспирантам, магистрантам и студентам вузов. 
521 8 |a Книга из коллекции БНТУ - Инженерно-технические науки 
521 8 |a СЭБ 
100 1 |a Новаш И. В. 
700 1 |a Романюк Ф. А. 
700 1 |a Румянцев В. Ю. 
700 1 |a Румянцев Ю. В. 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/421832 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/421832.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/421832.jpg