Пропуск в контексте

Методы диагностики и анализа микро- и наносистем учебное пособие

Данное учебное пособие предназначено для студентов физико-математического факультета, направлений подготовки: 210600 Нанотехнология; 210100 Электроника и наноэлектроника. Рекомендуется в качестве дополнительного материала к курсу лекций по дисциплине «Методы диагностики и анализа микро- инаносис...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Лачинов А. Н.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Уфа БГПУ имени М. Акмуллы 2013
Online-ссылка:http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=42398
https://e.lanbook.com/img/cover/book/42398.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Описание
Краткое описание:Данное учебное пособие предназначено для студентов физико-математического факультета, направлений подготовки: 210600 Нанотехнология; 210100 Электроника и наноэлектроника. Рекомендуется в качестве дополнительного материала к курсу лекций по дисциплине «Методы диагностики и анализа микро- инаносистем». Изучение данной дисциплины направлено на ознакомление с кругом актуальных задач диагностики наноматериалов и систем. Рассматриваются вопросы: основы сканирующей туннельной микроскопии, спектроскопия поверхности, физические основы атомно-силовой микроскопии; свойства поверхности в атомно-силовой микроскопии, контактный и полуконтактный методы исследования поверхности, метод фазового контраста, измерение распределения магнитных и электрических полей, нанооптика и микроскопия ближнего поля
Объем:60 с.
Аудитория:Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Информатика
Библиография:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань
ISBN:978-5-87978-817-4