Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия»....

Description complète

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteur principal:	Вострецов Д. Я.
Autres auteurs:	Вострецова Л. Н., Богданова Д. А., Соловьев А. А., Иго А. В.
Format:	Книга
Langue:	Russian
Publié:	Ульяновск УлГУ 2018
Sujets:	измерение параметров полупроводниковых приборов интегральных микросхем времени жизни неравновесных носителей тока заряда полупроводниках метод модуляции проводимости точечного контакта характеристик транзистора схеме с общей базой статических характеристик схеме с общим эмиттером диодов шоттки вольт-фарадных характеристик структур металл диэлектрик полупроводник электрофизических параметров механизмов протекания тока r-n-переход при высоком уровне инжекции
Accès en ligne:	https://e.lanbook.com/book/450368 https://e.lanbook.com/img/cover/book/450368.jpg
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Description
Résumé:	Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия».
Description matérielle:	132 с.
Public:	Книга из коллекции УлГУ - Физика СЭБ
Bibliographie:	Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань