Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия»....

Descrición completa

Gardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Вострецов Д. Я.
Outros autores:	Вострецова Л. Н., Богданова Д. А., Соловьев А. А., Иго А. В.
Formato:	Книга
Idioma:	Russian
Publicado:	Ульяновск УлГУ 2018
Темы:	измерение параметров полупроводниковых приборов интегральных микросхем времени жизни неравновесных носителей тока заряда полупроводниках метод модуляции проводимости точечного контакта характеристик транзистора схеме с общей базой статических характеристик схеме с общим эмиттером диодов шоттки вольт-фарадных характеристик структур металл диэлектрик полупроводник электрофизических параметров механизмов протекания тока r-n-переход при высоком уровне инжекции
Acceso en liña:	https://e.lanbook.com/book/450368 https://e.lanbook.com/img/cover/book/450368.jpg
Метки:	Engadir etiqueta Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

Descripción
Краткое описание:	Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия».
Descrición Física:	132 с.
Público:	Книга из коллекции УлГУ - Физика СЭБ
Bibliografía:	Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань