Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия»....

保存先:

書誌詳細
第一著者:	Вострецов Д. Я.
その他の著者:	Вострецова Л. Н., Богданова Д. А., Соловьев А. А., Иго А. В.
フォーマット:	Книга
言語:	Russian
出版事項:	Ульяновск УлГУ 2018
主題:	измерение параметров полупроводниковых приборов интегральных микросхем времени жизни неравновесных носителей тока заряда полупроводниках метод модуляции проводимости точечного контакта характеристик транзистора схеме с общей базой статических характеристик схеме с общим эмиттером диодов шоттки вольт-фарадных характеристик структур металл диэлектрик полупроводник электрофизических параметров механизмов протекания тока r-n-переход при высоком уровне инжекции
オンライン･アクセス:	https://e.lanbook.com/book/450368 https://e.lanbook.com/img/cover/book/450368.jpg
タグ:	タグ追加タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!

その他の書誌記述
要約:	Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия».
物理的記述:	132 с.
Audience:	Книга из коллекции УлГУ - Физика СЭБ
書誌:	Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань