Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия»....

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Автор:	Вострецов Д. Я.
Інші автори:	Вострецова Л. Н., Богданова Д. А., Соловьев А. А., Иго А. В.
Формат:	Книга
Мова:	Russian
Опубліковано:	Ульяновск УлГУ 2018
Предмети:	измерение параметров полупроводниковых приборов интегральных микросхем времени жизни неравновесных носителей тока заряда полупроводниках метод модуляции проводимости точечного контакта характеристик транзистора схеме с общей базой статических характеристик схеме с общим эмиттером диодов шоттки вольт-фарадных характеристик структур металл диэлектрик полупроводник электрофизических параметров механизмов протекания тока r-n-переход при высоком уровне инжекции
Онлайн доступ:	https://e.lanbook.com/book/450368 https://e.lanbook.com/img/cover/book/450368.jpg
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Опис
Резюме:	Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия».
Фізичний опис:	132 с.
Аудиторія:	Книга из коллекции УлГУ - Физика СЭБ
Бібліографія:	Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань