Пропуск в контексте

Оптические методы диагностики наноматериалов учебное пособие

Учебное пособие представляет собой изложение физических принципов, лежащих в основе методик оптической микроскопии, области их применения, а также краткий обзор устройства и функциональных параметров современных микроскопов. При написании пособия предполагалось, что читатель знаком с основными терми...

Fuld beskrivelse

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Шерстюк Н. Э.
Andre forfattere: Ильин Н. А., Мишина Е. Д.
Format: Книга
Sprog:Russian
Udgivet: Москва РТУ МИРЭА 2024
Online adgang:https://e.lanbook.com/book/464747
https://e.lanbook.com/img/cover/book/464747.jpg
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Beskrivelse
Summary:Учебное пособие представляет собой изложение физических принципов, лежащих в основе методик оптической микроскопии, области их применения, а также краткий обзор устройства и функциональных параметров современных микроскопов. При написании пособия предполагалось, что читатель знаком с основными терминами и понятиями физики твердого тела, относящимися к структуре и свойствам твердотельных материалов. Пособие рекомендуется при освоении учебных дисциплин «Техника эксперимента», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и др. Пособие предназначено для студентов и аспирантов, обучающихся по специальностям 11.03.04 (11.04.04) - «Электроника и наноэлектроника», 28.03.01 (28.04.01) - «Нанотехнологии и микросистемная техника» и смежных с ними, а также для широкого круга читателей, желающих получить общие представления в области современных оптических методик исследования наноматериалов.
Fysisk beskrivelse:143 с.
Publikum:Книга из коллекции РТУ МИРЭА - Инженерно-технические науки
СЭБ
Bibliografi:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань
ISBN:978-5-7339-2412-0