Пропуск в контексте

Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Fuld beskrivelse

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Смирнов С. В.
Format: Книга
Sprog:Russian
Udgivet: Москва ТУСУР 2010
Online adgang:http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_cid=25&pl1_id=4968
https://e.lanbook.com/img/cover/book/4968.jpg
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!

Lignende værker