Пропуск в контексте

Моделирование технологии и параметров кремниевых наноразмерных транзисторных структур учебное пособие для вузов

Составлено в соответствии с Государственным образовательным стандартом по дисциплине «Наноэлектронная технология». Изложены основные темы учебного материала, входящего в лекционный курс. А именно: рассмотрены вопросы математического моделирования процессов ионного внедрения примесей в кремний с испо...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Воронов Ю. А.
Другие авторы: Касков С. Ю., Мочалкина О. Р.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Москва НИЯУ МИФИ 2012
Online-ссылка:http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75726
https://e.lanbook.com/img/cover/book/75726.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 03272nam0a2200301 i 4500
001 75726
003 RuSpLAN
005 20221220173950.0
008 221220s2012 ru gs 000 0 rus
020 |a 978-5-7262-1730-7 
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
080 |a 621.382(075.8) 
084 |a 32.844.1я7  |2 rubbk 
245 0 0 |a Моделирование технологии и параметров кремниевых наноразмерных транзисторных структур  |b учебное пособие для вузов  |c Воронов Ю. А.,Касков С. Ю.,Мочалкина О. Р. 
260 |a Москва  |b НИЯУ МИФИ  |c 2012 
300 |a 80 с. 
500 |a Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a Составлено в соответствии с Государственным образовательным стандартом по дисциплине «Наноэлектронная технология». Изложены основные темы учебного материала, входящего в лекционный курс. А именно: рассмотрены вопросы математического моделирования процессов ионного внедрения примесей в кремний с использованием как «ручного» так и программного моделирования с помощью универсальной программы технологического моделирования T-CAD фирмы Synopsys. Представлены основные принципы работы с программой, включая списки команд, обеспечивающих моделирование технологии, электрофизических и электрических характеристик классического МДП-транзис-тора. Рассмотрены результаты моделирования наноразмерных МДП-транзисторов. Методика изложения материала позволяет студентам узнать теоретические вопросы и практически освоить основы программы T-CAD. Это первое учебное пособие по программе T-CAD на русском языке. Предназначено для студентов направлений подготовки по электронике. 
521 8 |a Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Инженерно-технические науки 
100 1 |a Воронов Ю. А. 
700 1 |a Касков С. Ю. 
700 1 |a Мочалкина О. Р. 
856 4 |u http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75726 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/75726.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/75726.jpg