Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Опубликовано: |
Москва
НИЯУ МИФИ
2011
|
| Темы: | |
| Online-ссылка: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758 https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 03773nam0a2200373 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 75758 | ||
| 003 | RuSpLAN | ||
| 005 | 20221220173950.0 | ||
| 008 | 221220s2011 ru gs 000 0 rus | ||
| 020 | |a 978-5-7262-1581-5 | ||
| 040 | |a RuSpLAN | ||
| 041 | 0 | |a rus | |
| 044 | |a ru | ||
| 080 | |a 620.179.118(076.5) | ||
| 084 | |a 32.85я7 |2 rubbk | ||
| 245 | 0 | 0 | |a Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум |b учебное пособие для вузов |c Елманов Г. Н.,Логинов Б. А.,Севрюков О. Н. |
| 260 | |a Москва |b НИЯУ МИФИ |c 2011 | ||
| 300 | |a 64 с. | ||
| 500 | |a Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений | ||
| 504 | |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань | ||
| 520 | 8 | |a Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ. | |
| 521 | 8 | |a Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Инженерно-технические науки | |
| 653 | 0 | |a автор мифи | |
| 653 | 0 | |a атомно-силовые микроскопы | |
| 653 | 0 | |a зондовый мультимикроскоп | |
| 653 | 0 | |a программа создания и развития нияу мифи | |
| 653 | 0 | |a пср | |
| 653 | 0 | |a смм-2000 | |
| 100 | 1 | |a Елманов Г. Н. | |
| 700 | 1 | |a Логинов Б. А. | |
| 700 | 1 | |a Севрюков О. Н. | |
| 856 | 4 | |u http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758 | |
| 856 | 4 | 8 | |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg |
| 953 | |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg | ||