Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Опубликовано: |
Москва
НИЯУ МИФИ
2011
|
| Темы: | |
| Online-ссылка: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758 https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
