Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии...
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | , |
| Aineistotyyppi: | Книга |
| Kieli: | Russian |
| Julkaistu: |
Москва
НИЯУ МИФИ
2011
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758 https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|