Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии...
保存先:
| 第一著者: | |
|---|---|
| その他の著者: | , |
| フォーマット: | Книга |
| 言語: | Russian |
| 出版事項: |
Москва
НИЯУ МИФИ
2011
|
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758 https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg |
| タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|