Saltar al contenido

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов

Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический к...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Formato: Книга
Lenguaje:Russian
Publicado: Уфа БГПУ имени М. Акмуллы 2016
Acceso en línea:https://e.lanbook.com/book/93053
https://e.lanbook.com/img/cover/book/93053.jpg
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Descripción
Sumario:Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический комплекс предназначен для старших курсов специальности 210100 «Электроника и наноэлектроника» Учебно-методический комплекс выполнен в рамках базовой части государственного задания в сфере научной деятельности Минобрнауки России по проекту №744 «Транспорт носителей заряда в субмикронных пленках полимерных диэлектриков при нестационарных граничных условиях в гетероструктуре металл/полимер/металл ».
Descripción Física:41 с.
Público:Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Инженерно-технические науки
Bibliografía:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань