Ir para o conteúdo

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов

Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический к...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Formato: Книга
Idioma:Russian
Publicado em: Уфа БГПУ имени М. Акмуллы 2016
Acesso em linha:https://e.lanbook.com/book/93053
https://e.lanbook.com/img/cover/book/93053.jpg
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
Descrição
Resumo:Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический комплекс предназначен для старших курсов специальности 210100 «Электроника и наноэлектроника» Учебно-методический комплекс выполнен в рамках базовой части государственного задания в сфере научной деятельности Минобрнауки России по проекту №744 «Транспорт носителей заряда в субмикронных пленках полимерных диэлектриков при нестационарных граничных условиях в гетероструктуре металл/полимер/металл ».
Descrição Física:41 с.
Audiência:Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Инженерно-технические науки
Bibliografia:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань