Пропуск в контексте

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов

Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический к...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Уфа БГПУ имени М. Акмуллы 2016
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/93053
https://e.lanbook.com/img/cover/book/93053.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 02258nam0a2200217 i 4500
001 93053
003 RuSpLAN
005 20221220173958.0
008 221220s2016 ru gs 000 0 rus
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
245 0 0 |a Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов 
260 |a Уфа  |b БГПУ имени М. Акмуллы  |c 2016 
300 |a 41 с. 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический комплекс предназначен для старших курсов специальности 210100 «Электроника и наноэлектроника» Учебно-методический комплекс выполнен в рамках базовой части государственного задания в сфере научной деятельности Минобрнауки России по проекту №744 «Транспорт носителей заряда в субмикронных пленках полимерных диэлектриков при нестационарных граничных условиях в гетероструктуре металл/полимер/металл ». 
521 8 |a Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Инженерно-технические науки 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/93053 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/93053.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/93053.jpg