Podobné jednotky

• Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
  Autor: Кузнецова, Е. А.
  Vydáno: (2018)
• Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
  Autor: Devitsky, O. V., a další
  Vydáno: (2020)
• Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
  Autor: Tarala, V. A., a další
  Vydáno: (2018)
• Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
  Autor: Tarala, V. A., a další
  Vydáno: (2018)
• Schotky barrier height and calculation of voltage–current characteristics of Al/n-(SiC)1–x(AlN)x diodes And 4H–SiC heterojunctions
  Autor: Altukhov, V. I., a další
  Vydáno: (2020)