Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
Сохранить в:
Hovedforfatter: | Кузнецова, Е. А. |
---|---|
Format: | ВКР |
Sprog: | Russian |
Udgivet: |
2018
|
Online adgang: | https://dspace.ncfu.ru:443/handle/20.500.12258/2328 |
Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Lignende værker
-
Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
af: Кузнецова, Е. А.
Udgivet: (2018) -
Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
af: Devitsky, O. V., и др.
Udgivet: (2020) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
af: Tarala, V. A., и др.
Udgivet: (2018) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
af: Tarala, V. A., и др.
Udgivet: (2018) -
Schotky barrier height and calculation of voltage–current characteristics of Al/n-(SiC)1–x(AlN)x diodes And 4H–SiC heterojunctions
af: Altukhov, V. I., и др.
Udgivet: (2020)