Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
Sparad:
Huvudupphovsman: | Кузнецова, Е. А. |
---|---|
Materialtyp: | ВКР |
Språk: | Russian |
Publicerad: |
2018
|
Länkar: | https://dspace.ncfu.ru:443/handle/20.500.12258/2328 |
Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|
Liknande verk
-
Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
av: Кузнецова, Е. А.
Publicerad: (2018) -
Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
av: Devitsky, O. V., et al.
Publicerad: (2020) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
av: Tarala, V. A., et al.
Publicerad: (2018) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
av: Tarala, V. A., et al.
Publicerad: (2018) -
Schotky barrier height and calculation of voltage–current characteristics of Al/n-(SiC)1–x(AlN)x diodes And 4H–SiC heterojunctions
av: Altukhov, V. I., et al.
Publicerad: (2020)