Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
Сохранить в:
主要作者: | Кузнецова, Е. А. |
---|---|
格式: | ВКР |
語言: | Russian |
出版: |
2018
|
在線閱讀: | https://dspace.ncfu.ru:443/handle/20.500.12258/2328 |
標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
相似書籍
-
Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
由: Кузнецова, Е. А.
出版: (2018) -
Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
由: Devitsky, O. V., и др.
出版: (2020) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
由: Tarala, V. A., и др.
出版: (2018) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
由: Tarala, V. A., и др.
出版: (2018) -
Schotky barrier height and calculation of voltage–current characteristics of Al/n-(SiC)1–x(AlN)x diodes And 4H–SiC heterojunctions
由: Altukhov, V. I., и др.
出版: (2020)