Перейти до змісту

Growth of heteroepitaxial aluminium nitride films on aluminium oxide substrates via PEALD method

Research was performed on possibility of growth of heteroepitaxial aluminum nitride films on (0001) sapphire substrates within 210 to 300 degrees Celsius temperature range via plasma-enhanced atomic layer deposition. Samples created were studied by ellipsometry, x-ray diffraction analysis and rockin...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автори: Tarala, V. A., Тарала, В. А., Altakhov, A. S., Алтахов, А. С., Ambartsumov, M. G., Амбарцумов, М. Г., Martens, V. Y., Мартенс, В. Я., Shevchenko, M. Y., Шевченко, М. Ю.
Формат: Статья
Мова:English
Опубліковано: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 2018
Предмети:
Онлайн доступ:https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85017584082&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&nlo=1&nlr=20&nls=afprfnm-t&affilName=north+caucasus+federal+university&sid=4a2a77c64cce8892f9521d5be1c7d9a7&sot=afnl&sdt=sisr&sl=53&s=%28AF-ID%28%22North+Caucasus+Federal+University%22+60070541%29%29&ref=%28Growth+of+heteroepitaxial+aluminium+nitride+films+on+aluminium+oxide+substrates+via+PEALD+method%29&relpos=0&citeCnt=0&searchTerm=
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/3039
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!