Нанометрология Монография
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление наномстрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения наномстрологии. Освещены вопросы нестабильности точности и неопределенности наноизмерен...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Монография |
| Online-ссылка: | https://znanium.com/catalog/document?id=367456 https://znanium.com/cover/1212/1212455.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 03599nam0a2200289 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU\infra-m\znanium\bibl\1212455 | ||
| 003 | https://znanium.com/catalog/document?id=367456 | ||
| 005 | 20201016000000.0 | ||
| 010 | |a 978-5-98704-494-0 | ||
| 100 | |a 20201016d2020 m y0rusy0150 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Нанометрология |e Монография |f Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых | |
| 210 | 1 | |a Москва |c Издательская группа "Логос" |d 2020 | |
| 215 | |a 416 с. | ||
| 330 | |a Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление наномстрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения наномстрологии. Освещены вопросы нестабильности точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям -поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы наномстрологии системы Гостехрсгулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотсхнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов работающих в сфере наноиндустрии и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых инженеров и других специалистов разрабатывающих проблемы наномстрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотсхнологий метрологии и технического регулирования а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях. | ||
| 333 | |a ВО - Магистратура | ||
| 606 | |a Общетехнические дисциплины |x Метрология |2 local | ||
| 608 | |a Монография |2 local | ||
| 675 | |a 006 |z rus | ||
| 686 | |a 30 |2 rubbk | ||
| 686 | |a 27.04.01 |2 okso | ||
| 686 | |a 28.04.01 |2 okso | ||
| 700 | 1 | |a Сергеев |b А.Г. |g Алексей Георгиевич |p Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых | |
| 801 | 0 | |a RU |b Общество с ограниченной ответственностью «ЗНАНИУМ» |c 20201015 |2 rusmarc | |
| 856 | 4 | |a znanium.com |m ebs_support@infra-m.ru |n НИЦ ИНФРА-М |u https://znanium.com/catalog/document?id=367456 | |
| 856 | 4 | 1 | |a znanium.com |d /cover/1212 |f 1212455.jpg |q image/jpeg |u https://znanium.com/cover/1212/1212455.jpg |