Оптические свойства тонких диэлектрических пленок Учебное пособие
Пособие посвящено изучению отражающих и пропускающих свойств тонких диэлектрических пленок с единых позиций волновой теории электромагнитного поля. Моделью пленки является трехслойная диэлектрическая структура: «подложка-пленка-защитный слой». Изложены физические основы работы такой структуры в режи...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Учебное пособие |
| Online-ссылка: | https://znanium.com/catalog/document?id=397346 https://znanium.com/cover/1867/1867915.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 03672nam0a2200301 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU\infra-m\znanium\bibl\1867915 | ||
| 003 | https://znanium.com/catalog/document?id=397346 | ||
| 005 | 20220302000000.0 | ||
| 010 | |a 978-5-7782-3974-6 | ||
| 100 | |a 20220302d2022 m y0rusy0150 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Оптические свойства тонких диэлектрических пленок |e Учебное пособие | |
| 210 | 1 | |a Новосибирск |c Новосибирский государственный технический университет (НГТУ) |d 2019 | |
| 215 | |a 87 с. | ||
| 330 | |a Пособие посвящено изучению отражающих и пропускающих свойств тонких диэлектрических пленок с единых позиций волновой теории электромагнитного поля. Моделью пленки является трехслойная диэлектрическая структура: «подложка-пленка-защитный слой». Изложены физические основы работы такой структуры в режимах прохождения ТЕ- и ТМ-поляризованных световых волн в том числе и с полным внутренним отражением на нижней границе раздела диэлектрических сред. Получены формулы для нахождения амплитудных и энергетических коэффициентов отражения и пропускания диэлектрических пленок. Исследованы зависимости таких коэффициентов от длины волны углов наклона и состояния поляризации световых волн а также от оптической толщины пленок. Включены вопросы задачи и расчетно-графические задания способствующие более глубокому пониманию физических процессов распространения и преобразования световых волн в тонких диэлектрических пленках и методов их компьютерного моделирования. Предназначено для магистров и бакалавров по направлениям 12.03.02 - Оптотехника 12.03.03 - Фотоника и оптоинформатика 12.04.02 - Оптотехника а также для аспирантов по специальности 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы. | ||
| 333 | |a ВО - Бакалавриат | ||
| 606 | |a Физико-математические науки |x Физика твердого тела. Кристаллография |2 local | ||
| 608 | |a Учебное пособие |2 local | ||
| 675 | |a 539 |z rus | ||
| 686 | |a 223 |2 rubbk | ||
| 686 | |a 12.03.02 |2 okso | ||
| 686 | |a 12.03.03 |2 okso | ||
| 686 | |a 12.04.02 |2 okso | ||
| 700 | 1 | |a Твердохлеб |b П.В. |g Петр Васильевич | |
| 801 | 0 | |a RU |b Общество с ограниченной ответственностью «ЗНАНИУМ» |c 20220301 |2 rusmarc | |
| 856 | 4 | |a znanium.com |m ebs_support@infra-m.ru |n НИЦ ИНФРА-М |u https://znanium.com/catalog/document?id=397346 | |
| 856 | 4 | 1 | |a znanium.com |d /cover/1867 |f 1867915.jpg |q image/jpeg |u https://znanium.com/cover/1867/1867915.jpg |