Пропуск в контексте

Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения Учебно-методическая литература

Подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства с помощью которых могут осуществляться преднамере...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Гуревич В.И
Формат: Учебно-методическая литература
Редакция:3
Online-ссылка:https://znanium.com/catalog/document?id=417185
https://znanium.com/cover/1902/1902478.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!