Электронная инженерия: теория параметрической чувствительности систем Монография
Систематизированы методы исследования чувствительности выходных электрических тепловых механических и других физических характеристик систем к изменениям внутренних параметров этих процессов моделирование которых может проводиться в области аналитических структурных топологических и морфологических...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Монография |
| Редакция: | 1 |
| Online-ссылка: | https://znanium.ru/catalog/document?id=461037 https://znanium.ru/cover/2193/2193208.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 03493nam0a2200349 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU\infra-m\znanium\bibl\2193208 | ||
| 003 | https://znanium.ru/catalog/document?id=461037 | ||
| 005 | 20250304000000.0 | ||
| 010 | |a 978-5-16-020784-1 | ||
| 010 | |a 978-5-16-113479-5 |b электр. издание | ||
| 100 | |a 20250304d2025 m y0rusy0150 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Электронная инженерия: теория параметрической чувствительности систем |e Монография | |
| 205 | |a 1 | ||
| 210 | 1 | |a Москва |c ООО "Научно-издательский центр ИНФРА-М" |d 2024 | |
| 215 | |a 152 с. | ||
| 330 | |a Систематизированы методы исследования чувствительности выходных электрических тепловых механических и других физических характеристик систем к изменениям внутренних параметров этих процессов моделирование которых может проводиться в области аналитических структурных топологических и морфологических представлений. Для полноты системного подхода автором дополнительно проведена разработка ряда новых методов. Показывается эффективность применения функций параметрической чувствительности в процессе проектирования систем с одновременно протекающими в них несколькими взаимосвязанными физическими процессами. Монография предназначена для научных работников предприятий занятых в области проектирования высоконадёжных электронных систем. Она также будет полезна для успешно работающих докторантов аспирантов и студентов сфера научных интересов которых связана с новыми методами анализа влияния изменений физических параметров на промежуточные и выходные характеристики электронных систем. | ||
| 333 | |a Дополнительное профессиональное образование | ||
| 606 | |a Радиоэлектроника. Автоматика. Связь |x Схемотехника. Общие вопросы |2 local | ||
| 608 | |a Монография |2 local | ||
| 675 | |a 621.396.6(075.4) |z rus | ||
| 686 | |a 32.844 |2 rubbk | ||
| 686 | |a 11.04.03 |2 okso | ||
| 686 | |a 11.05.01 |2 okso | ||
| 686 | |a 11.05.02 |2 okso | ||
| 686 | |a 11.06.01 |2 okso | ||
| 686 | |a 27.04.03 |2 okso | ||
| 700 | 1 | |a Кофанов |b Ю.Н. |g Юрий Николаевич | |
| 801 | 0 | |a RU |b Общество с ограниченной ответственностью «ЗНАНИУМ» |c 20250130 |2 rusmarc | |
| 856 | 4 | |a znanium.ru |m ebs_support@infra-m.ru |n НИЦ ИНФРА-М |u https://znanium.ru/catalog/document?id=461037 | |
| 856 | 4 | 1 | |a znanium.ru |d /cover/2193 |f 2193208.jpg |q image/jpeg |u https://znanium.ru/cover/2193/2193208.jpg |