Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии Учебно-методическая литература
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Учебно-методическая литература |
| Online-ссылка: | https://znanium.com/catalog/document?id=2771 https://znanium.com/cover/0546/546011.jpg |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 01877nam0a2200289 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU\infra-m\znanium\bibl\546011 | ||
| 003 | https://znanium.com/catalog/document?id=2771 | ||
| 005 | 20210419000000.0 | ||
| 010 | |a 978-5-7782-1924-3 | ||
| 100 | |a 20210419d2016 m y0rusy0150 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии |e Учебно-методическая литература |f Новосибирский государственный технический университет | |
| 210 | 1 | |a Новосибирск |c Новосибирский государственный технический университет (НГТУ) |d 2012 | |
| 215 | |a 28 с. | ||
| 333 | |a ВО - Бакалавриат | ||
| 606 | |a Радиоэлектроника. Автоматика. Связь |x Микроэлектроника. Наноэлектроника |2 local | ||
| 608 | |a Учебно-методическая литература |2 local | ||
| 675 | |a 535 |z rus | ||
| 686 | |a 3285 |2 rubbk | ||
| 686 | |a 16.03.01 |2 okso | ||
| 686 | |a 16.04.01 |2 okso | ||
| 700 | 1 | |a Величко |b А.А. |g Александр Андреевич |p Новосибирский государственный технический университет | |
| 701 | 1 | |a Кольцов |b Б.Б. |g Борис Борисович | |
| 801 | 0 | |a RU |b Общество с ограниченной ответственностью «ЗНАНИУМ» |c 20160205 |2 rusmarc | |
| 856 | 4 | |a znanium.com |m ebs_support@infra-m.ru |n НИЦ ИНФРА-М |u https://znanium.com/catalog/document?id=2771 | |
| 856 | 4 | 1 | |a znanium.com |d /cover/0546 |f 546011.jpg |q image/jpeg |u https://znanium.com/cover/0546/546011.jpg |