Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awdur: | |
|---|---|
| Fformat: | Llyfr |
| Cyhoeddwyd: |
НБ СевКавГТУ
|
| Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|