Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Сохранить в:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | Bog |
| Udgivet: |
НБ СевКавГТУ
|
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|