Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Published: |
НБ СевКавГТУ
|
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|