Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Publicado: |
НБ СевКавГТУ
|
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|