Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Julkaistu: |
НБ СевКавГТУ
|
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|