Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Livre |
| Publié: |
НБ СевКавГТУ
|
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|