Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| יצא לאור: |
НБ СевКавГТУ
|
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|