Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
में बचाया:
| मुख्य लेखक: | |
|---|---|
| स्वरूप: | पुस्तक |
| प्रकाशित: |
НБ СевКавГТУ
|
| टैग : |
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|