Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Spremljeno u:
| Glavni autor: | |
|---|---|
| Format: | Knjiga |
| Izdano: |
НБ СевКавГТУ
|
| Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|