Անցեք բովանդակությանը

Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств

В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Воробьев В. Л.
Ձևաչափ: Գիրք
Հրապարակվել է: НБ СевКавГТУ
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!