Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | |
---|---|
Ձևաչափ: | Գիրք |
Հրապարակվել է: |
НБ СевКавГТУ
|
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|