Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
保存先:
| 第一著者: | |
|---|---|
| フォーマット: | 図書 |
| 出版事項: |
НБ СевКавГТУ
|
| タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|