Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Boek |
| Gepubliceerd in: |
НБ СевКавГТУ
|
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|