Pular para o conteúdo

Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств

В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Воробьев В. Л.
Formato: Livro
Publicado em: НБ СевКавГТУ
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!