Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Shranjeno v:
| Glavni avtor: | |
|---|---|
| Format: | Knjiga |
| Izdano: |
НБ СевКавГТУ
|
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|