Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Materyal Türü: | Kitap |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
НБ СевКавГТУ
|
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|