Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Опубліковано: |
НБ СевКавГТУ
|
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|