Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств.
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Định dạng: | Sách |
| Được phát hành: |
НБ СевКавГТУ
|
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|