Пропуск в контексте

Надежность твердых интегральных схем

Рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем.

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главные авторы: Ефимов И. Е., Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Формат: Книга
Опубликовано: НБ СевКавГТУ
Темы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!