Anar al contingut

Надежность твердых интегральных схем

Рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем.

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autors principals: Ефимов И. Е., Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Format: Llibre
Publicat: НБ СевКавГТУ
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!