Přeskočit na obsah

Надежность твердых интегральных схем

Рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем.

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: Ефимов И. Е., Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Médium: Kniha
Vydáno: НБ СевКавГТУ
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!