Пропуск в контексте

Надежность твердых интегральных схем

Рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем.

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Главные авторы: Ефимов И. Е., Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Format: Bog
Udgivet: НБ СевКавГТУ
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!