Skip to content

Надежность твердых интегральных схем

Рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем.

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Ефимов И. Е., Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Format: Book
Published: НБ СевКавГТУ
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!