Saltar al contenido

Надежность твердых интегральных схем

Рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем.

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ефимов И. Е., Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Formato: Libro
Publicado: НБ СевКавГТУ
Materias:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!